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Estudio de la composición cristalina de polvos

TX2000

TX 2000 - Arellano Limitada El TX2000 es un espectrómetro único que permite realizar análisis de Energía Dispersiva de Fluorescencia de Rayos X (EDXRF) tanto con Reflección Total, como en la Geometría tradicional (45 grados).   En el XRF de Reflección Total, el haz primario tienen un angulo de incidencia de unos pocos milliradianes, en lugar de los 45 grados en la Fluorescencia de Rayos X tradicional.

APD 2000

APD 2000 - Arellano Limitada APD 2000 es un difractómetro de rayos X para analizar la estructura de un material a partir del patrón de dispersión que se produce cuando un haz de rayos X interactúa con la muestra.

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