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APD 2000 - Arellano Limitada APD 2000 es equipo difractómetro de rayos X que permite analizar la estructura de un material a partir del patrón de dispersión que se produce cuando un haz de rayos X interactúa con la muestra.

La difracción de rayos X es una técnica usada para caracterizar la estructura cristalográfica, tamaño de los cristales o muestras sólidas en polvo. Se utiliza comúnmente para identificar sustancias desconocidas que comparan los datos de difracción y también puede ser utilizado para caracterizar mezclas sólidas heterogéneas para determinar la abundancia relativa de compuestos cristalinos.

El difractómetro de rayos X APD 2000  está diseñado para ser la mejor solución para la fase y el análisis estructural de muestras de polvo, utilizando la geometría de Bragg-Brentano bien conocida.

Los campos de aplicación son: medio ambiente, del suelo/roca, arcilla, minerales, cerámica, cementos, vidrios, petróleo, catalizador, polímeros, ciencias agrícolas, ciencias biológicas, productos químicos, productos farmacéuticos, cosméticos, análisis forense.

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